高低温一体机 半导体老化试验 1000次循环
简要描述:高低温一体机 半导体老化试验 1000次循环高低温一体机专为半导体老化试验设计,支持 - 40℃至 150℃宽温域精确控温,温度波动度 ±0.5℃,满足芯片在极-端环境下的可靠性验证需求。设备内置智能 PID 算法与快速温变系统,温变速率可达 5℃/min,单次循环周期缩短至传统设备的 1/3,支持 1000 次以上长寿命循环测试
产品型号: SMC-408PF
所属分类:可程式高低温一体机
更新时间:2025-02-26
厂商性质:生产厂家
详情介绍
高低温一体机 半导体老化试验 1000次循环
产品简介
本高低温一体机专为半导体老化试验设计,支持 - 40℃至 150℃宽温域精确控温,温度波动度 ±0.5℃,满足芯片在极-端环境下的可靠性验证需求。设备内置智能 PID 算法与快速温变系统,温变速率可达 5℃/min,单次循环周期缩短至传统设备的 1/3,支持 1000 次以上长寿命循环测试。
核心优势
精准控温:采用双循环制冷制热系统,确保全温域 ±0.5℃稳定性,避免热应力损伤芯片。
高效循环:120 组可编程温变曲线,支持复杂循环模式(如 - 40℃→125℃交替),加速暴露材料疲劳与封装缺陷。
安全可靠:全封闭制冷系统防止油雾污染,实时监测漏电流与温湿度数据,自动记录 1000 次循环日志,支持 USB 数据导出。

温度范围
控温精度
温变能力
循环寿命
结构设计
制冷系统
安全保护
数据管理


高低温一体机 半导体老化试验 1000次循环
应用场景
行业价值
某企业通过该设备发现封装材料热膨胀系数不匹配问题,优化后产品故障率下降 25%,研发周期缩短 40%。设备通过 CE、ISO 认证,适用于晶圆、封装模块及成品芯片的老化测试,助力半导体产业提升产品可靠性与量产效率


留言询价