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半导体器件高低温循环测试系统

半导体器件高低温循环测试系统

简要描述:半导体器件高低温循环测试系统
航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。半导体器件高低温循环测试系统,是半导体产业的关键质量保障利器。该系统专为严苛的半导体测试需求打造,能精准模拟极-端温度环境,温度范围可达 -60℃至 150℃,控温精度高达 ±0.5℃,有力确保测试的准确性。

产品型号: SMD-150AF

所属分类:高低温环境试验装置

更新时间:2025-02-17

厂商性质:生产厂家

详情介绍

半导体器件高低温循环测试系统



半导体器件高低温循环测试系统,是半导体产业的关键质量保障利器。该系统专为严苛的半导体测试需求打造,能精准模拟极-端温度环境,温度范围可达 -60℃至 150℃,控温精度高达 ±0.5℃,有力确保测试的准确性。通过先进的循环风道设计,使箱内温度均匀性出色,消除局部温差影响。无论是芯片、晶体管,还是集成电路,在其高频次的高低温交替冲击下,潜在缺陷与性能短板将无所遁形。搭配智能触控操作屏,参数设置便捷,实时数据一目了然,为半导体器件从研发到量产全程护航

半导体器件高低温循环测试系统



皓天设备恒温恒湿试验箱的型号及规格:

1. 容积(单位:L)

2. 工作室尺寸(D*W*H)mm

3. 外型尺寸(D*W*H)mm

4. 80L

400×400×500

5. 930×660×1485

6. 150L

7. 500×500×600

8. 950×1000×1660

9. 225L

10. 600×500×750

11. 1030×1000×1815

12. 800L

13. 800×1000×1000

14. 1230×1500×2080

15. 1000L

16. 1000×1000×1000

17. 1430×1500×2080






半导体器件高低温循环测试系统

参数:

型号:SMD-150AF

1、温度范围:-60℃~150℃

2、湿度范围:20~98%RH(温度在25℃~80℃时)

3、温度均匀度:≤2℃ (空载时)

4、湿度均匀度:+2、-3%RH

5、温度波动度:±0.5℃ (空载时)

6、湿度波动度:±2%

7、温度偏差:±2℃

8、湿度偏差:±2%

半导体器件高低温循环测试系统

曲线记录功能:

3在机器停机状态下,可随时插入U盘导出或上传数据,并可通过随机赠送软件将导出来的文件在电脑查看或转成EXCEL格式。

仪表配备USB端口,可直接通过端口驱动微型打印机预览及打印(选配)。

控制系统:

控制器 进口微电脑湿温度集成控制器(湿度直接显示百分数)。

精度范围 设定精度:温度±0.1℃、湿度±0.1%R·H,指示精度:温度± 0.1℃、温度±0.1%R·H 温湿度传感器 铂铂金电阻·PT100Ω。

加热系统 *独立系统,镍铬合金电加热式加热器。

加湿系统 外置隔离式,全不锈钢锅炉式浅表面蒸发式加湿器。

循环系统 耐温低噪音空调型电机,多叶式离心风轮。

半导体器件高低温循环测试系统





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