电子产品的高低温试验箱测试

电子产品的高低温试验箱测试

    随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生一些潜伏缺陷。电子产品在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题概括有两类：

1、是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；

2、是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

    一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活(暴露)。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压。

    给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，高低温试验箱模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。